IaE  >> Vol. 12 No. 1 (March 2024)

仪器与设备
Instrumentation and Equipments
Vol.12 No.1(2024), Paper ID 82845, 9 pages
DOI:10.12677/IaE.2024.121001

采用还原基片的声表面波滤波器可靠性研究
A Study on Reliability of SAW Filters with Reduction Wafers

倪 烨,袁 燕,张 倩,任秀娟,刘启迪,张志阳,张志悦:北京航天微电科技有限公司,北京

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倪烨, 袁燕, 张倩, 任秀娟, 刘启迪, 张志阳, 张志悦. 采用还原基片的声表面波滤波器可靠性研究[J]. 仪器与设备, 2024, 12(1): 1-10. https://doi.org/10.12677/IaE.2024.121001