氮化镓高电子迁移率晶体管的物理失效分析技术研究进展Research Progress of Physical Failure Analysis Techniques for Gallium Nitride High Electron Mobility Transistors
安蒙恩, 修慧欣 下载量: 422 浏览量: 1,125
应用物理 Vol.13 No.6, June 16 2023, PDF, HTML, XML DOI:10.12677/APP.2023.136032 被引量