基于性能退化的印制板电连接器的贮存寿命评估
Evaluation of Storage Life of PCB Connectors Based on Performance Degradation
马 震,钱 萍,刘鑫雨：浙江理工大学浙江省机电产品可靠性技术研究重点实验室，浙江 杭州；王 哲：北京控制与电子技术研究所，北京；姚华军：杭州航天电子技术有限公司，浙江 杭州
版权 © 2017 马 震, 钱 萍, 刘鑫雨, 王 哲, 姚华军。本期刊文章已获得知识共享署名国际组织(Creative Commons Attribution International License)的认证许可。您可以复制、发行、展览、表演、放映、广播或通过信息网络传播本作品；您必须按照作者或者许可人指定的方式对作品进行署名。