p-Si(110)衬底上蒸发生长PTCDA薄膜的生长方式的XRD表征
XRD Characterization of PTCDA Thin Films Grown by Evaporation on p-Si(110) Substrate
李 霞,孙 硕,张福甲：兰州大学物理学院微电子学研究所，甘肃 兰州
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