光学元件表面浅划痕长度的定量检测研究Quantitative Measurement Research for the Length of Shallow Scratch on Optics Surface
郑芳兰, 于德强, 姜宏振, 李 东, 刘 旭, 刘 勇, 杨晓瑜, 陈 波 下载量: 2,708 浏览量: 7,717 国家科技经费支持
应用物理 Vol.5 No.5, June 23 2015, PDF, , XML DOI:10.12677/APP.2015.55007 被引量